Istruzioni per l'uso LEICA STEREO EXPLORER BROCHURE

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Mode d'emploi LEICA STEREO EXPLORER
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   LEICA STEREO EXPLORER DATASHEET (68 ko)
   LEICA STEREO EXPLORER VOLUME MODULE BROCHURE (95 ko)
   LEICA STEREO EXPLORER PROFILE MODULE BROCHURE (68 ko)
   LEICA STEREO EXPLORER BROCHURE (1360 ko)
   LEICA STEREO EXPLORER APPLICATION NOTE (934 ko)
   LEICA STEREO EXPLORER AREA MODULE BROCHURE (94 ko)
   LEICA STEREO EXPLORER VOLUME MODULE BROCHURE (95 ko)
   LEICA STEREO EXPLORER PROFILE MODULE BROCHURE (69 ko)

Estratto del manuale: manuale d'uso LEICA STEREO EXPLORERBROCHURE

Istruzioni dettagliate per l'uso sono nel manuale

[. . . ] Leica Stereo Explorer Modulo per superfici Descrizione: Il modulo per superfici Stereo Explorer permette la valutazione della superficie relativamente a parametri quali ruvidità e ondulazione. [. . . ] Per la definizione di una ROI (region of interest) l'utente può scegliere tra le modalità rettangolo e poligono. Con la ROI viene selezionata la parte dell'immagine per la quale si desiderano calcolare i parametri della superficie. La rappresentazione della superficie avviene o con l'immagine originaria dello stereomicroscopio o con un'immagine a colori o a toni di grigio codificata in altezza. Similmente ad una cartina geografica, è possibile anche sovrapporre le linee altimetriche delle sezioni. La rappresentazione corrente può essere salvata sotto forma di immagine (JPG, TIFF, PNG, BMP. . . ) e stampata. Funzioni principali: · · · · · · · Poligono o rettangolo liberamente selezionabile Misurazione della superficie vera e di quella proiettata Estrazione di parametri come ondulazione e ruvidità Funzione di esportazione di tutti i dati misurati sotto forma di immagine o tabella Possibilità di fissare e modificare il livello di riferimento Rappresentazione dell'immagine da misurare sotto forma di immagine altimetrica o, alternativamente, anaglifica Sovrapposizione delle quote altimetriche delle sezioni Numero di ordinazione 33 007 036 Modulo per superfici Leica Stereo Explorer Leica Microsystems Viale Ortles, 54/A IT-20139 Milano Tel. +39 02 57 486. 1 Fax +39 02 57 40 3273 www. leica-microsystems. com www. stereomicroscopy. com Figure, descrizioni e dati tecnici soggetti a variazioni senza preavviso. [. . . ] M1-525-2it · © Leica Microsystems (Switzerland) Ltd · CH-9435 Heerbrugg, 2004 · Stampato in Svizzera ­ IV. 2005 ­ RDV [. . . ]

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